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NI發(fā)布“2009年自動(dòng)化測試領(lǐng)域的發(fā)展趨勢”


時(shí)間:2009-8-21
 

30多年來(lái),作為測試測量行業(yè)的創(chuàng )新者和虛擬儀器技術(shù)的領(lǐng)導者,National Instruments一直致力于為工程師和科學(xué)家們提供一個(gè)通用的軟硬件平臺,用于科技應用和工程創(chuàng )新。伴隨著(zhù)測試需求的多樣化和復雜化,這種以軟件為核心的測試策略正逐漸成為行業(yè)主流的技術(shù),并得到廣泛的應用,在提高效率的同時(shí)降低測試成本。在新興商業(yè)技術(shù)不斷涌現的今天和未來(lái),測試測量行業(yè)正呈現出五個(gè)重要的發(fā)展方向。

趨勢一:軟件定義的儀器系統成為主流

如今的電子產(chǎn)品(像iPhone和Wii等)已越來(lái)越依重于軟件去定義產(chǎn)品的功能。同樣的,在產(chǎn)品設計和客戶(hù)需求日益復雜的今天,用于測試測量的儀器系統也朝著(zhù)以軟件為核心的模塊化方向發(fā)展,使得用戶(hù)能夠更快更靈活的將測試集成到設計過(guò)程中去,進(jìn)一步減少了開(kāi)發(fā)時(shí)間。

趨勢二:多核/并行測試帶來(lái)機遇和挑戰

多核時(shí)代的來(lái)臨已成為不可避免的發(fā)展趨勢,雙核乃至八核的商用PC現在已隨處可見(jiàn)。得益于PC架構的軟件定義的儀器,用戶(hù)可以在第一時(shí)間享受到多核處理器為自動(dòng)化測試應用帶來(lái)的巨大性能提升。

趨勢三:基于FPGA的自定義儀器將更為流行

隨著(zhù)設計和測試的要求越來(lái)越高,FPGA(現場(chǎng)可編程門(mén)陣列)技術(shù)正逐漸被引入到最新的模塊化儀器中,這也就是我們所說(shuō)的基于FPGA的自定義儀器。

趨勢四:無(wú)線(xiàn)標準測試的爆炸性增長(cháng)

近年來(lái)無(wú)線(xiàn)通信標準的發(fā)展可謂是日新月異,從2000年前只有四五種的無(wú)線(xiàn)標準到現在眾多新標準如雨后春筍般涌現。越來(lái)越多的消費電子產(chǎn)品和工業(yè)產(chǎn)品都或多或少的集成了無(wú)線(xiàn)通信的功能,像蘋(píng)果公司最新的3G版iPhone手機,更是同時(shí)集成了UMTS, HSDPA, GSM, EDGE, Wi-Fi, GPS和藍牙等多種最新的無(wú)線(xiàn)標準。這些都給無(wú)線(xiàn)技術(shù)的開(kāi)發(fā)和測試帶來(lái)了巨大的挑戰,測試技術(shù)如何跟上無(wú)線(xiàn)技術(shù)的發(fā)展成為工程師面臨的最大難題。通常傳統射頻儀器的購買(mǎi)周期是5至7年,而新標準和新技術(shù)的推出周期卻是每?jì)赡暌惠,購買(mǎi)的射頻測試設備由于其固件和功能的限定通常難以跟上新標準的發(fā)展速度。

趨勢五:協(xié)議感知(Protocol-Aware)ATE將影響半導體的測試

如今的半導體器件變得愈加的復雜,高級的片上系統(SoC)和封裝系統(SiP)相比典型的基于矢量的器件測試而言,需要更為復雜的系統級的功能測試,F在器件的功能也不再是通過(guò)簡(jiǎn)單的并行數字接口實(shí)現,而是更多的依賴(lài)于高速串行總線(xiàn)和無(wú)線(xiàn)協(xié)議進(jìn)行輸出,這就要求測試設備和器件之間能夠在指定的時(shí)鐘周期內完成高速的激勵和響應測試。

 
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