溫度沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，都會(huì )用到，是各領(lǐng)域對產(chǎn)品測試的必不可少的一項測試箱，兩箱式箱體分為高溫箱和低溫箱;三箱式箱體分為高溫箱,低溫箱,測試箱三部分,采獨特之斷熱結構及蓄熱蓄冷效果，試驗時(shí)待測物完全靜止。
 

 

　　溫度沖擊試驗箱的實(shí)驗流程分成五部走：預備處理、原始檢驗、實(shí)驗、修復、后檢驗。在其中實(shí)驗的步驟以下：

 

　　1)實(shí)驗試品應按規范規定置放在試驗箱內，并將試驗箱內溫度升到特定點(diǎn)，維持一定的時(shí)間至實(shí)驗試品做到溫度平穩，以時(shí)間長(cháng)都為標準。

 

　　2)高溫環(huán)節完畢后，在5min內將實(shí)驗試品變換到已調整到-55℃的低溫實(shí)驗內，維持1h或是直到實(shí)驗試品做到溫度平穩，以時(shí)間長(cháng)都為標準。

 

　　3)低溫環(huán)節完畢后，在5min內將實(shí)驗試品變換到，已調整到70℃的高溫試驗箱內，維持1h或是直到實(shí)驗試品做到溫度平穩，以時(shí)間長(cháng)都為標準。

 

　　4)反復所述實(shí)驗方法,以進(jìn)行三個(gè)循環(huán)系統周期時(shí)間。依據首樣尺寸與室內空間尺寸，時(shí)間將會(huì )會(huì )略微偏差。

 

　　我們需要提醒您在使用時(shí)要注意：高溫燙傷，溫度沖擊試驗箱在做高溫試驗時(shí)箱內溫度很高。試驗過(guò)程中或測試剛結束時(shí)，如需打開(kāi)箱，開(kāi)門(mén)要特別小心，切記，順著(zhù)門(mén)開(kāi)啟的方向行走，以免燙傷;低溫凍傷，在做低溫試驗時(shí)箱內溫度很低。試驗過(guò)程中或試驗剛結束時(shí)，如需打開(kāi)箱門(mén)要特別小心，以免凍傷。