高低溫沖擊試驗箱的可用目標及實(shí)驗方法
作者:高低溫沖擊試驗箱 ????時(shí)間:2020-04-13 09:59
高低溫沖擊試驗箱可用的目標包含電子電氣零組件、自動(dòng)化技術(shù)零部件、通信部件、汽車(chē)零配件、金屬材料、化工材料、塑料等制造行業(yè)及國防科技、航空航天、兵工業(yè)生產(chǎn)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體材料陶磁及纖維材料之物理學(xué)牲轉變。
高低溫沖擊試驗箱實(shí)驗:
1)實(shí)驗試品應按規范規定置放在試驗箱內,并將試驗箱(室)內溫度升到特定點(diǎn),維持一定的時(shí)間至實(shí)驗試品做到溫度平穩,以時(shí)間長(cháng)都為標準。
2)高溫環(huán)節完畢后,在5min內將實(shí)驗試品變換到已調整到-55℃的低溫試驗箱(室)內,維持1h或是直到實(shí)驗試品做到溫度平穩,以時(shí)間長(cháng)都為標準。
3)低溫環(huán)節完畢后,在5min內將實(shí)驗試品變換到已調整到70℃的高溫試驗箱(室)內,維持1h或是直到實(shí)驗試品做到溫度平穩,以時(shí)間長(cháng)都為標準。
4)反復所述實(shí)驗方法,以進(jìn)行三個(gè)循環(huán)系統周期時(shí)間。依據首樣尺寸與室內空間尺寸,時(shí)間將會(huì )會(huì )略微偏差。
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